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電子元器件失效分析
發布時間： 2023-03-28 19:50 更新時間： 2024-12-29 10:00
電子元器件失效分析，根據失效模式和現象，通過分析和驗證，模擬重現失效的現象，找出失效的原因，挖掘出失效的機理的活動。在提高產品質量，技術開發、改進，產品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。其方法分為有損分析，無損分析，物理分析，化學分析等。
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